X光散射技术(英语:X-ray scattering techniques)是一系列常用的非破坏性分析技术,可用于揭示物质的晶体结构、化学组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础,并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析,例如不同的温度或压力。